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簡要描述：產品型號和價格A型T=25mm 2050A型支架3# 1600B型T=50mm 3150B型支架5# 1600C型T=100mm 4600C型支架6# 1600D型T=200mm 6000D型支架8# 2200E型T=400mm 22500E型支架 2200超聲波對比試塊無損探傷試塊
產品型號：TOFD-A/B/C/D/E- 廠商性質：經銷商
- 更新時間：2025-06-10
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詳情介紹
超聲波對比試塊無損探傷試塊
一、首先檢測前需要對檢測靈敏度進行確定，確定的方法一般應采用對比試塊來進行。
根據(jù)NB 47013.10 衍射時差法超聲檢測標準要求：
1.當采用對比試塊上的反射體設置靈敏度時，需要將較弱的衍射信號波幅設置為滿屏高的40%-80%，并在被檢工件表面掃查時進行表面耦合補償。
2.當被檢工件厚度不大于50mm且采用單通道檢測時，也可直接在被檢工件上進行靈敏度設置，一般將直通波的波幅設置到滿屏高的40%-80%。
3.當然也可以使用對比試塊進行校準，對于壁厚12mm≤t≤25mm的試塊，應至少設置3個反射體，包括一個試塊表面的矩形槽，掃查面下4mm處一個2mm側孔，以及一個1/2t處尖槽或者一個側孔。（具體要求參見標準）
如果用對比試塊進行靈敏度校準，則需要對比試塊上較弱的缺陷信號調至40%-80%之間。
TOFD（Time of Flight Diffraction）技術是一種基于衍射信號實施檢測的技術，即衍射時差法超聲檢測技術。總的來說。
二、TOFD技術有很多優(yōu)點：
1、可靠性好，由于利用的是波的衍射信號，不受聲束角度的影響，缺陷的檢出率比較高。
2、定量精度高。
3、檢測過程方便快捷。一般一人就可以完成TOFD檢測，探頭只需要沿焊縫兩側移動即可。
4、擁有清晰可靠的TOFD掃查圖像，與A型掃描信號比起來，TOFD掃查圖像更利于缺陷的識別和分析。
5、TOFD檢測使用的都是高性能數(shù)字化儀器，記錄信號的能力強，可以全程記錄掃查信號，而且掃查記錄可以長久保存并進行處理。
6、除了用于檢測外，還可用于缺陷變化的監(jiān)控，尤其對裂紋高度擴展的測量精度很高。
但是TOFD技術也有它自身的局限性：
1、對近表面缺陷檢測的可靠性不夠。上表面缺陷信號可能被埋藏在直通波下面而被漏檢，而下表面缺陷則會因為被底面反射波信號掩蓋而漏檢。
2、缺陷定性比較困難。
3、TOFD圖像的識別和判讀比較難，需要豐富的經驗。
4、不容易檢出橫向缺陷。
5、復雜形狀的缺陷檢測比較難。
6、點狀缺陷的尺寸測量不夠精確。超聲波對比試塊無損探傷試塊
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